英國abi_AT256 A4集成電路測(cè)試儀詳細(xì)資料：

二維集成電路用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路

二維電路板用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64路（可擴(kuò)充至2048路）

三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64路（可擴(kuò)充至2048路）

功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；

2）快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件；

3）對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析；

4）非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析；

5）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；

6）測(cè)試安全可靠，解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題；

7）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè)；

8）配合測(cè)控平臺(tái)軟件，實(shí)現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測(cè)試。

英國abi_AT256 A4集成電路測(cè)試儀測(cè)試原理(V-I曲線測(cè)試)：

對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。

被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。

測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:

1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).

2.將集成電路插入測(cè)試座.

3.執(zhí)行測(cè)試

4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.

不需要電子專業(yè)知識(shí).

適用于集成電路/封裝件.及多種類型電路板.

靈活、好安裝、宜操作.

測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.

軟件可設(shè)定多種測(cè)試條件.

可提供集成電路自定義測(cè)試分析報(bào)告.

英國ABI-AT256 A4多品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:

-雙列插腳(DIL)

-小型封裝集成集成電路(SOIC)

-小型封裝(SSOP, TSOP)

-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)

-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)

-球門陣列封裝(BGA)

注意: AT256 A4不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于各個(gè)電路板的測(cè)試。