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北京金三航科技發(fā)展有限公司
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硬件系統(tǒng)測試功能化設(shè)計,可根據(jù)要求擴(kuò)充測試功能和測試通道,軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計,可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測試過程流程化:保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù),形成標(biāo)準(zhǔn)
英國abi_BM8500電路板故障測試儀是一個多功能且易于使用的獨(dú)立測試系統(tǒng). 它提供了電路板檢測功能, 電路板的檢測能力.無論在電路板的設(shè)計驗(yàn)證, 生產(chǎn)測試
英國abi_BM8300電路板故障測試儀配備了測試電路板需的基本功能:數(shù)字集成電路、模擬集成電路的功能測試,非加電V-I曲線測試,數(shù)字電路板功能測試,電路通斷
英國abi_AT256 A4集成電路測試儀具備二維集成電路用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:64路(可擴(kuò)充至20
英國abi_AT256 A4 pro2集成電路測試儀:二維集成電路用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:128路;三
英國abi_AT256 A4 pro4多品種集成電路篩選測試儀具備二維集成電路用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:
英國abi_SWA512集成電路測試儀具備二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:512路,二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:512路,三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測
SWA1024集成電路測試儀可用于集成電路、元器件研發(fā)測試;三維立體動態(tài)阻抗測試,二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:1024路,二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通