針對(duì)您的測(cè)試要求提供的解決方案...

? ? ? ?對(duì)于現(xiàn)今電子業(yè)界的快速變化，求新、求變的市場(chǎng)需求特性，無論是從事設(shè)計(jì)，生產(chǎn)，試驗(yàn)還是故障維修，都在向電子工程師提出各項(xiàng)的挑戰(zhàn)。電子電路變得更快，更小，更便宜和更復(fù)雜。對(duì)測(cè)試和維修的成本效益也變得相對(duì)性的提高很多。因此，您的測(cè)試設(shè)備能否滿足你的需求，而來應(yīng)對(duì)這一連串爆發(fā)性的技術(shù)變革？如果了解到這個(gè)問題，說明你已在尋求解決方式的路上了。

? ? ? ?盡管目前的電子技術(shù)日新月異，但其故障情形的基本性質(zhì)仍是相同的：故障的集成電路(ICs) 會(huì)無法正常動(dòng)作，故障的二極管會(huì)呈現(xiàn)開路或短路的狀態(tài)，故障的電容器會(huì)呈現(xiàn)短路的故障現(xiàn)象?，F(xiàn)今會(huì)造成電路板上故障的情況跟10年前的是相同的情形。但今天我們快速的找到這些故障點(diǎn)。 “高經(jīng)濟(jì)效益的維修工作” 的重心并不在于能不能修復(fù)電路板，而是在于需要花費(fèi)多少的時(shí)間以及人力來修復(fù)一塊電路板。

? ? ? ?以經(jīng)濟(jì)學(xué)來說，維修費(fèi)用也包括其測(cè)試設(shè)備。而BM8500電路板故障測(cè)試儀在其廣泛的應(yīng)用上具有相當(dāng)高的成本效益。它包括了一個(gè)儀表控制軟件，且易于工程師來操作使用。硬件是安裝在一個(gè)包含PC的標(biāo)準(zhǔn)19寸機(jī)架式機(jī)箱中，而BM8500是一個(gè)模塊化系統(tǒng)，因此可以為定應(yīng)用進(jìn)行客制化的配置。

一、BM8500電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)構(gòu)成

1.系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)：（各個(gè)測(cè)試單元可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充測(cè)試模塊以達(dá)到需要的測(cè)試通道）

1)多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；

2)模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元（動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元）可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；

5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充電源通道

6)硬件測(cè)試框架；

2.可編輯軟件測(cè)試平臺(tái)：

1)非代碼編程：測(cè)試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序；

2)代碼編程：自動(dòng)化、半自動(dòng)化電路板整板測(cè)試，實(shí)現(xiàn)電路板批量化測(cè)試、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測(cè)試、電路板一致性分析測(cè)試。

3.測(cè)試夾具：

1)測(cè)試夾具：日常手工測(cè)試需要的夾具；

2)治具：電路板整板測(cè)試的測(cè)試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）BM8500電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)功能：

1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；單元由ABI-6500模塊*1組成

1)64*1通道（可擴(kuò)充至2048通道）

2)數(shù)字器件功能測(cè)試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點(diǎn)系數(shù)，數(shù)字V-I測(cè)試

3)邏輯時(shí)序發(fā)生器

4)電路板故障查找功能

5)短路追蹤（通斷測(cè)量）

6）未知型號(hào)器件的判別

2.模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測(cè)試，矩陣測(cè)試；

2)24路測(cè)試通道，2通道探筆測(cè)試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測(cè)試通道；

3)多種器件的V-I, V-T, I-T曲線測(cè)試；

4)模擬集成電路及分立器件測(cè)試功能。

3.三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元（動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元）可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規(guī)格：64路測(cè)試通道+4路探棒測(cè)試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測(cè)試模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測(cè)試；

3)矩陣測(cè)試:對(duì)管腳間的V-I（阻抗）曲線測(cè)試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值；

5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048路測(cè)試通道。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）單元由ABI-6350模塊*1組成

規(guī)格：集成8種常用測(cè)試儀器于一體；

1)3通道數(shù)字示波器；

2)2通道任意波形發(fā)生器；

3)2通道數(shù)字電壓表；

4)1通道數(shù)字電流表；

5)1通道數(shù)字電阻表；

6)1通道頻率計(jì)；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元；單元由ABI-1200模塊*1組成

規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；

通道隔離；

每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

具備過壓、過流保護(hù)

遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償功能

6.硬件測(cè)試框架?

英國原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計(jì)算機(jī)（可以安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測(cè)試平臺(tái)功能?

中英文軟件，可通過編程軟件對(duì)模塊進(jìn)行操作控制?

1.具有測(cè)試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能）

2.測(cè)試流程的制定貫穿測(cè)試過程，使電路測(cè)試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測(cè)試流程）?？梢园凑諟y(cè)試要求，保存流程測(cè)試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。

3.記錄多種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測(cè)試結(jié)果等信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試流程中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比，大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。

4.軟件在測(cè)試流程中允許用戶加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，大大提升了測(cè)試效率。

5.圖形化測(cè)試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立元器件與電路板測(cè)試庫，元器件與整板測(cè)試庫擴(kuò)充簡(jiǎn)單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫。

6.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告可以包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。

7.*中文、英文測(cè)試操作軟件，中文軟件漢化到多級(jí)菜單（漢化版），提供免費(fèi)軟件的升級(jí)服務(wù)；

8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對(duì)測(cè)試的每個(gè)步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個(gè)編程命令。

（三）測(cè)試夾具功能

1.測(cè)試夾具附件，包括：DIL等多種器件測(cè)試夾具1套（日常手工測(cè)試需要的夾具）；

2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測(cè)試的測(cè)試工裝（包括：針床、接口板等）；

3.可選配件：SOIC測(cè)試夾具、離線測(cè)試盒、分立器件測(cè)試探筆套裝等。

二、BM8500電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)

1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。

2.*軟件系統(tǒng)測(cè)試過程流程化設(shè)計(jì)，可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程流程化：保存流程測(cè)試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。以后的測(cè)試就

3.按照流程步驟進(jìn)行測(cè)試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對(duì)比報(bào)告。測(cè)試流程的制定貫穿測(cè)試過程，并不斷完善測(cè)試流程。實(shí)時(shí)將測(cè)試經(jīng)驗(yàn)、測(cè)試信息擴(kuò)充到測(cè)試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試，提高排故和測(cè)試效率。

4.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。

5.*多電源數(shù)字電路測(cè)試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試（可擴(kuò)充到2048通道），每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為：輸入/電壓測(cè)量、輸出/信號(hào)驅(qū)動(dòng)或V/I曲線測(cè)量；可進(jìn)行自定義測(cè)試，器件與整板的自定義仿真測(cè)試。

6.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測(cè)試功能，定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7.系統(tǒng)可對(duì)多種器件進(jìn)行端口測(cè)試： V-I、V-T、V-I-F測(cè)試.二維V-I測(cè)試低達(dá)1Hz頻率，三維測(cè)試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件?？稍O(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。

8.變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板，三維立體圖形測(cè)量測(cè)量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測(cè)試。

9.*系統(tǒng)各個(gè)模塊在同一個(gè)專業(yè)平臺(tái)操控下同時(shí)運(yùn)行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試并生成自定義測(cè)試報(bào)告。

10.*集成8種測(cè)試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測(cè)試儀器可以并發(fā)操作，步驟過程可以記錄存儲(chǔ)并可對(duì)比，測(cè)試數(shù)據(jù)可以量化，并可以形成測(cè)試報(bào)告，可對(duì)電路板進(jìn)行仿真測(cè)試、調(diào)試測(cè)試、一致性測(cè)試等整板測(cè)試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，三個(gè)通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計(jì)，自動(dòng)開啟和關(guān)閉測(cè)試需的電源。電源配合其他模塊使用，可實(shí)現(xiàn)整板測(cè)試與多電源測(cè)試的流程自動(dòng)化。

12.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測(cè)試庫，測(cè)試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測(cè)試庫?？梢酝ㄟ^圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速批量建立元器件和整板測(cè)試庫。

13.系統(tǒng)含有模擬器件測(cè)試庫，可對(duì)放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試等。

14.系統(tǒng)可對(duì)多種器件進(jìn)行端口測(cè)試：V-I、V-T、I-T測(cè)試。測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.