SWA2048集成電路測試儀詳細(xì)資料：

測試通道：

二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：2048路

二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道：2048路

三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：2048路

功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測；

2）可用于集成電路、元器件研發(fā)測試；三維立體動態(tài)阻抗測試；

3）快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件；

4）對不良器件進(jìn)行三維動態(tài)阻抗失效分析；

5）非加電條件下對集成電路、電路板進(jìn)行端口動態(tài)阻抗測試分析；

6）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；

7）測試安全可靠，解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題；

8）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；

9）專業(yè)操作管理平臺：可根據(jù)需求編輯測試流程程序，完成自定義化測試，軟件管理平臺兼容其他廠商設(shè)備。測試流程的制定貫穿整個(gè)測試過程，使集成電路、電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程）。測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。

主要優(yōu)勢：

1）提供軟件開發(fā)平臺，兼容其他廠商測試設(shè)備；

2）V-T模式可測量器件的開關(guān)時(shí)間特性（配合同步脈沖）；可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試。可測試三段期間開關(guān)時(shí)間特性。

3）動態(tài)阻抗分析功能，可以對三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測量；

4）變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。

5）非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測試。測試更安全：矩陣式掃頻測試，脈沖輸出進(jìn)行的動態(tài)V/T測試。