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  • BM8600 電路板故障檢測(cè)儀
  • AT256A4 集成電路篩選測(cè)試儀
  • RE1024 電路板反求系統(tǒng)

abi-3200電路板故障檢測(cè)儀

英國(guó)abi-3400的簡(jiǎn)化版??稍陟o態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線(xiàn), 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設(shè)備檢測(cè)能力, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間。

  • 英國(guó)abi-3200電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品概述:

    ? ?英國(guó)abi-3200電路板維修測(cè)試儀是abi-3400的簡(jiǎn)化版??稍陟o態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線(xiàn), 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設(shè)備檢測(cè)能力, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間!


    1.軟件配置:

    1)具有測(cè)試流程記憶功能(軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能)

    2)*記錄多種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的V-I-F、V-I和V-T曲線(xiàn)圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試程序中,方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比,大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。

    3)軟件在測(cè)試流程中允許用戶(hù)根據(jù)需要加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說(shuō)明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁(yè)鏈接、視頻等,大大提升了測(cè)試效率。

    4)*中文、英文測(cè)試操作軟件,提供免費(fèi)軟件的升級(jí)服務(wù);

    2.硬件配置:

    1)具有32通道數(shù)字V-I動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試(可擴(kuò)充到2048通道)。

    2)*具有32路測(cè)試V-I-F和V-I測(cè)試通道,2路探棒測(cè)試,2組同步脈沖。具備變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線(xiàn)??梢圆檎遗c器件頻率有關(guān)的故障。三維畫(huà)面與二維畫(huà)面可以相互切換,可在二維圖面上顯示曲線(xiàn)各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I):電壓、電流具體數(shù)值。擴(kuò)充到2048路V-I-F測(cè)試通道。

    3)*系統(tǒng)可對(duì)多種器件進(jìn)行端口測(cè)試: V-I、V-T、V-I-F、V-T-F測(cè)試。二維V-I測(cè)試低達(dá)1Hz頻率,測(cè)試頻率高達(dá)10kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件??稍O(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。


    英國(guó)abi-3200電路板故障檢測(cè)儀特點(diǎn):

    靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。

    檢測(cè)電路板上受損器件。

    可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。

    可檢測(cè)出不相同的器件。

    將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至很低。

    通道可擴(kuò)充至2048路

    何謂V/I曲線(xiàn)測(cè)試?

    ? ?對(duì)于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線(xiàn)測(cè)試是成熟、可靠的解決方案。

    ? ?透過(guò)一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生的電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線(xiàn)。


    分析V/I曲線(xiàn),通常是與一個(gè)參考點(diǎn)作比較,而檢測(cè)如下問(wèn)題:

    漏電流器件。

    內(nèi)部受損器件。

    錯(cuò)誤數(shù)值的器件。

    不一致的器件。

    短路與開(kāi)路。


    變頻掃描方式---增加設(shè)備查找問(wèn)題的范圍!

    ? ?abi-3200通過(guò)改變V/I信號(hào)的AC電壓的頻率, 而增加設(shè)備查找問(wèn)題的范圍, 其產(chǎn)生的曲線(xiàn), 繪制在一個(gè)3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀(guān)察到整個(gè)頻率范圍上的V/I曲線(xiàn)變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見(jiàn)的問(wèn)題。


    矩陣式掃描V/I----- 增加設(shè)備查找問(wèn)題的范圍!

    ? ?abi-3200模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線(xiàn), 而增加設(shè)備查找問(wèn)題的范圍。在這個(gè)模式時(shí), abi-3200模塊是在參考其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測(cè)試中只有一個(gè)參考管腳)的情形下, 獲得一個(gè)器件或電路板每個(gè)管腳的V/I曲線(xiàn)。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個(gè)20腳器件400條曲線(xiàn)), 足以檢測(cè)出不易查找的故障。


  • 英國(guó)abi?abi-3200電路板故障檢測(cè)儀介紹視頻



    ? ? ? ? 英國(guó)abi-3200電路板故障檢測(cè)儀可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線(xiàn), 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設(shè)備檢測(cè)能力, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間。


  • 英國(guó)abi-3200電路板故障檢測(cè)儀軟件截圖:

    1.?V-I-F測(cè)試:

    V-I-F測(cè)試

    ?

    2.?V-I-F多通道測(cè)試:

    V-I-F多通道測(cè)試


    3.?V-T測(cè)試:

    VT測(cè)試

    ?

    4.?矩陣測(cè)試:

    矩陣測(cè)試



  • 英國(guó)abi-3200電路板故障檢測(cè)儀技術(shù)規(guī)格和參數(shù):


    1. 測(cè)量通道:32路V-I-F/V-I測(cè)試通道(可擴(kuò)充至2048通道);

    2. 探筆通道:2通道實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試;

    3. 信號(hào)通道:2通道同步脈沖信號(hào)輸出;

    4. 測(cè)試信號(hào)電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;

    5. 測(cè)試信號(hào)頻率范圍:二維測(cè)試頻率范圍:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz為步進(jìn)連續(xù)可調(diào));

    6. 三維測(cè)試頻率范圍:10Hz ~ 10kHz(以1Hz為步進(jìn)連續(xù)可調(diào));

    7. 信號(hào)電流范圍:1 μA ~ 250 mA;

    8. 測(cè)試阻抗范圍:100Ω ~ 1MΩ;

    9. 測(cè)試信號(hào)波形:正弦波;

    10. 顯示圖形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;

    11. 二維V-I測(cè)量方式:以器件或電路板某一管腳為參考點(diǎn),其他管腳對(duì)參考的的阻抗;

    12. 二維V-T測(cè)量方式:檢查與時(shí)間特性器件的測(cè)量方式;

    13. 二維矩陣測(cè)試:管腳間的V-I曲線(xiàn)測(cè)試;

    14. 三維立體V-I-F測(cè)量方式:檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板的測(cè)量方式;

    15. 同步脈沖輸出模式:?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;

    16. 同步信號(hào)振幅: -10 V ~ +10V可調(diào),最小調(diào)整分辨率0.01V;

    17. 設(shè)備升級(jí):可以以64通道為步進(jìn)可擴(kuò)充到2048組測(cè)試通道。


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