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abi-3400電路板故障檢測儀

可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測試。采用三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設備檢測能力, 同時減少測試時間!

  • 英國abi-3400電路板故障檢測儀詳細資料:

    可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測試。采用三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設備檢測能力, 同時減少測試時間!


    1.軟件配置:

    1)具有測試流程記憶功能(軟件具有強大的測試流程編輯和記錄功能)

    2)*記錄多種測試信息。軟件可將標準電路板上測量到的V-I-F、V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試程序中,方便隨時與其他電路板進行對比,大大簡化了測試中需要重復對比的工作。

    3)軟件在測試流程中允許用戶根據(jù)需要加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等,大大提升了測試效率。

    4)*中文、英文測試操作軟件,提供免費軟件的升級服務;


    2.硬件配置:

    1)具有64通道數(shù)字V-I動態(tài)阻抗測試(可擴充到2048通道)。

    2)*具有64路測試V-I-F和V-I測試通道,4路探棒測試,4組同步脈沖。具備變頻三維立體V-I-F測量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線。可以查找與器件頻率有關的故障。三維畫面與二維畫面可以相互切換,可在二維圖面上顯示曲線各點的電氣參數(shù)值(V/I):電壓、電流具體數(shù)值。擴充到2048路V-I-F測試通道。

    3)*系統(tǒng)可對多種器件進行端口測試: V-I、V-T、V-I-F、V-T-F測試。二維V-I測試低達1Hz頻率,測試頻率高達10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件??稍O定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試。

    英國abi-3400電路板故障檢測儀特點:

    靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進行測試。

    檢測電路板上受損器件。

    可檢測出具有泄漏型故障的器件。

    可檢測出不相同的器件。

    將損壞風險降低。

    具多通道測試(64通道), 可減少測試時間。

    通道可擴充至2048路


    何謂V/I曲線測試?


    對于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線測試是成熟、可靠的解決方案。

    透過一個限流電阻器, 施加AC電壓到一個測試點時, 測量因此產(chǎn)生的電流, 并將結果繪制成一個電壓/電流圖形, 即顯示該測試點的特性曲線。

    分析V/I曲線,通常是與一個參考點作比較,而檢測如下問題:

    漏電流器件。

    內(nèi)部受損器件。

    錯誤數(shù)值的器件。

    不一致的器件。

    短路與開路。


    變頻掃描方式---增加設備查找問題的范圍!

    英國abi-3400電路板故障檢測儀通過改變V/I信號的AC電壓的頻率, 而增加設備查找問題的范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個頻率范圍上的V/I曲線變化, 進而找到標準V/I分析方法看不見的問題。


    矩陣式掃描V/I---增加設備查找問題的范圍!

    abi-3400模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加設備查找問題的范圍。在這個模式時, abi-3400模塊是在參考其它有效管腳(不同于標準V/I測試中只有一個參考管腳)的情形下, 獲得一個器件或電路板每個管腳的V/I曲線。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個20腳器件400條曲線), 足以檢測出不易查找的故障。


  • 英國abi?abi-3400電路板故障檢測儀介紹視頻



    ? ? ? ? 英國abi-3400電路板故障檢測儀可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測試。采用三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加設備檢測能力, 同時減少測試時間!



  • 英國abi-3400電路板故障檢測儀軟件截圖:

    1.?V-I-F測試:

    V-I-F測試

    ?

    2.?V-I-F多通道測試:

    V-I-F多通道測試

    ?

    3.?V-T測試:

    V-T測試


    4.?矩陣測試:

    矩陣測試


  • 英國abi-3400電路板故障檢測儀規(guī)格參數(shù):


    1. 測量通道:64路V-I-F/V-I測試通道(可擴充至2048通道);

    2. 探筆通道:4通道實時對比測試;

    3. 信號通道:4通道同步脈沖信號輸出;

    4. 測試信號電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;

    5. 測試信號頻率范圍:二維測試頻率范圍:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz為步進連續(xù)可調(diào));

    6. 三維測試頻率范圍:10Hz ~ 10kHz(以1Hz為步進連續(xù)可調(diào));

    7. 信號電流范圍:1 μA ~ 250 mA;

    8. 測試阻抗范圍:100Ω ~ 1MΩ;

    9. 測試信號波形:正弦波;

    10. 顯示圖形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;

    11. 二維V-I測量方式:以器件或電路板某一管腳為參考點,其他管腳對參考的的阻抗;

    12. 二維V-T測量方式:檢查與時間特性器件的測量方式;

    13. 二維矩陣測試:各個管腳間的V-I曲線測試;

    14. 三維立體V-I-F測量方式:檢查與頻率特性有關的器件或電路板的測量方式;

    15. 同步脈沖輸出模式:單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;

    16. 同步信號振幅: -10 V ~ +10V可調(diào),最小調(diào)整分辨率0.01V;

    17. 設備升級:可以以64通道為步進可擴充到2048組測試通道。


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