集成電路測(cè)試儀檢測(cè)假冒IC和組件

集成電路測(cè)試儀檢測(cè)假冒IC和組件，提供PLCC、SOIC、QFP、BGA等各種適配座，用于檢查各種封裝的IC和組件，還可以提供測(cè)試報(bào)告供用戶使用和參考。

? ? ? ?集成電路測(cè)試儀用于快速輕松地檢測(cè)假冒IC和組件。為您提供正確的解決方案，保護(hù)您的生產(chǎn)設(shè)施前端免受假冒器件的滲透。集成電路測(cè)試儀只需將組件放入對(duì)應(yīng)的適配座上，并使用軟件來控制所有操作，應(yīng)用范圍很廣，工業(yè)企業(yè)、高等院校、軍事、航空航天和軌道交通等行業(yè)提供應(yīng)用。提供PLCC、SOIC、QFP、BGA等各種適配座，用于檢查各種封裝的IC和組件，還可以提供測(cè)試報(bào)告供用戶使用和參考。