AT256集成電路測(cè)試儀培訓(xùn)視頻第三講：測(cè)試原理

? ? ? ? ? ?英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀AT256培訓(xùn)視頻第3講:集成電路測(cè)試原理,采用加壓測(cè)流的方式對(duì)器件管腳進(jìn)行安全的非加電測(cè)試,通過VI曲線比對(duì)的方法快速得到集成電路測(cè)試結(jié)果,無需原理圖.這種測(cè)試方法既適合模擬集成電路測(cè)試也適合數(shù)字集成電路測(cè)試.介紹6種典型VI曲線測(cè)試圖譜,在實(shí)際集成電路測(cè)試中看到的會(huì)是這6種圖譜的串并聯(lián)疊加組合成的曲線圖.測(cè)試條件對(duì)VI曲線結(jié)果有巨大影響,為了得到滿意的曲線圖形，我們需要對(duì)測(cè)試參數(shù)包括電壓電流以及頻率進(jìn)行調(diào)整組合,從而得到最大化圖形用于對(duì)比.為方便大家測(cè)試,講解了4種典型器件的測(cè)試條件組合