測試設備：電路板故障測試儀BM8600

使用模塊：可編程電源+三維立體V-I-F曲線阻抗測試模塊

測試內(nèi)容：HCPL-6751高速光耦偶發(fā)性故障的對比測試報告

測試結(jié)果：失敗

HCPL-6751高速光耦偶發(fā)性故障的對比測試報告

測試結(jié)果分析：

1、圖1說明國產(chǎn)器件與進口器件在相同頻率下開關(guān)時間特性不同；

2、圖2說明國產(chǎn)器件導通電壓下限為1.12V；進口器件導通電壓下限為1.4V；國產(chǎn)器件導通電壓過低有可能會導致誤觸發(fā)。

3、在測試過程中，國產(chǎn)器件出現(xiàn)第3組光耦偶發(fā)性故障，施加觸發(fā)電壓后光耦無輸出。